Seijas , C., Villazana , S., Montilla , G., Pérez , E. y Montilla , R. 2021. Detector de Neuropatologías en EEG usando Estadísticas de Orden Superior y Aprendizaje Profundo. Revista Ingeniería UC. 28, 1 (may 2021), 141–151. DOI:https://doi.org/10.54139/revinguc.v28i1.14.