SEIJAS , C.; VILLAZANA , S.; MONTILLA , G.; PÉREZ , E.; MONTILLA , R. Detector de Neuropatologías en EEG usando Estadísticas de Orden Superior y Aprendizaje Profundo. Revista Ingeniería UC, [S. l.], v. 28, n. 1, p. 141–151, 2021. DOI: 10.54139/revinguc.v28i1.14. Disponível em: https://revistas.uc.edu.ve/index.php/revinguc/article/view/14. Acesso em: 3 jul. 2024.